Применение метода вторичной ионно-ионной эмиссии для количественного определения содержания и распределения примесей в твердых телах и для исследования некоторых процессов, протекающих в твердых телах: (01.04.04): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова. Науч.-исслед. ин-т ядерной физики
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Пистряк, В. М. |
| Опубликовано: | М. , 1973 |
| Физические характеристики: |
30 с. : граф.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||