Применение метода вторичной ионно-ионной эмиссии для количественного определения содержания и распределения примесей в твердых телах и для исследования некоторых процессов, протекающих в твердых телах: (01.04.04): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова. Науч.-исслед. ин-т ядерной физики

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ237556,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Пистряк, В. М.
Опубликовано: М. , 1973
Физические характеристики: 30 с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr28310980000
005 20070525142202.0
021 # # $a RU  $b [74-630а] 
100 # # $a 20070525d1973 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Применение метода вторичной ионно-ионной эмиссии для количественного определения содержания и распределения примесей в твердых телах и для исследования некоторых процессов, протекающих в твердых телах  $e (01.04.04)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук  $f Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова. Науч.-исслед. ин-т ядерной физики 
210 # # $a М.  $d 1973 
215 # # $a 30 с.  $c граф. 
300 # # $a Список лит.: с. 29-30 (17 назв.) 
686 # # $a 01.04.04  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Пистряк  $b В. М.  $g Виктор Михайлович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070525  $g psbo