Дифракционные методы исследования процессов агломерации точечных дефектов в полупроводниках: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: (01.04.10) / Моск. ин-т электрон. техники
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Пискунов, Д. И. |
| Опубликовано: | М. , 1987 |
| Физические характеристики: |
41 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr28308620000 | ||
| 005 | 20070525142202.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070525d1987 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Дифракционные методы исследования процессов агломерации точечных дефектов в полупроводниках $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук $e (01.04.10) $f Моск. ин-т электрон. техники |
| 210 | # | # | $a М. $d 1987 |
| 215 | # | # | $a 41 с. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 37-41 (35 назв.). Для служеб. пользования |
| 686 | # | # | $a 01.04.10 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Пискунов $b Д. И. $g Дмитрий Иванович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070525 $g psbo |