
Физические основы некоторых количественных методов просвечивающей электронной микроскопии: (046): Автореф. дисс. на соискание учен. степени д-ра физ.-мат. наук / АН УССР. Физ.-техн. ин-т низких температур
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Пилянкевич, А. Н. |
Опубликовано: | Харьков , 1971 |
Физические характеристики: |
35 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|