Методы испытаний и оборудование для контроля качества полупроводниковых приборов: [Учеб. для сред. ПТУ]

Сохранено в:
Шифр документа: 117378,
Вид документа: Книги
Автор: Перельман, В. Л.
Издание: 2-е изд., перераб. и доп.
Опубликовано: М. : Высш. шк. , 1986
Физические характеристики: 223, [1] с. : ил. ; 22 см
Язык: Русский
Серия: Проф.-техн. образование
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr28026560000
005 20140214130255.8
010 # # $b (В пер.)  $d 55 к. 
021 # # $a RU  $b [86-51633] 
100 # # $a 20070522d1986 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Методы испытаний и оборудование для контроля качества полупроводниковых приборов  $e [Учеб. для сред. ПТУ] 
205 # # $a 2-е изд., перераб. и доп. 
210 # # $a М.  $c Высш. шк.  $d 1986 
215 # # $a 223, [1] с.  $c ил.  $d 22 см 
225 2 # $a Проф.-техн. образование 
300 # # $a Библиогр.: с. 221 (6 назв.) 
345 # # $9 17000 экз. 
610 0 # $a Полупроводниковые приборы - Испытание - Учебники и пособия 
675 # # $a 621.382.001.4(075.32) 
686 # # $a 32.852я72  $2 rubbk 
700 # 1 $a Перельман  $b В. Л.  $g Вениамин Лазаревич 
701 # 1 $a Сидоров  $b В. Г.  $g Владимир Григорьевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070522  $g psbo