|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr27866630000 |
005 |
20141017151100.0 |
010 |
# |
# |
$d 55 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [85-5914]
|
100 |
# |
# |
$a 20071221d1984 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Физические основы полупроводниковой тензометрии
$e Межвуз. сб. науч. тр.
$f Новосиб. электротехн. ин-т
$g [Редкол.: В. С. Шадрин (отв. ред.) и др.]
|
210 |
# |
# |
$a Новосибирск
$c НЭТИ
$d 1984
|
215 |
# |
# |
$a 139, 6 с.
$c ил.
$d 20 см
|
300 |
# |
# |
$a Библиогр. в конце ст.
|
345 |
# |
# |
$9 500 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Тензометры полупроводниковые - Сборники
|
675 |
# |
# |
$a 531.781.2
|
702 |
# |
1 |
$a Шадрин
$b В. С.
$g Владимир Степанович
$4 340
|
711 |
0 |
2 |
$a Новосибирскнй электротехнический ин-т
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071221
$g psbo
|