Физические основы полупроводниковой тензометрии: Межвуз. сб. науч. тр. / Новосиб. электротехн. ин-т

Сохранено в:
Шифр документа: 35089,
Вид документа: Книги
Опубликовано: Новосибирск : НЭТИ , 1984
Физические характеристики: 139, 6 с. : ил. ; 20 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr27866630000
005 20141017151100.0
010 # # $d 55 к. 
021 # # $a RU  $b [85-5914] 
100 # # $a 20071221d1984 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Физические основы полупроводниковой тензометрии  $e Межвуз. сб. науч. тр.  $f Новосиб. электротехн. ин-т  $g [Редкол.: В. С. Шадрин (отв. ред.) и др.] 
210 # # $a Новосибирск  $c НЭТИ  $d 1984 
215 # # $a 139, 6 с.  $c ил.  $d 20 см 
300 # # $a Библиогр. в конце ст. 
345 # # $9 500 экз. 
610 0 # $a Тензометры полупроводниковые - Сборники 
675 # # $a 531.781.2 
702 # 1 $a Шадрин  $b В. С.  $g Владимир Степанович  $4 340 
711 0 2 $a Новосибирскнй электротехнический ин-т 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071221  $g psbo