|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr27841610000 |
005 |
20150128132133.0 |
010 |
# |
# |
$d 70 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [87-55224]
|
100 |
# |
# |
$a 20071221d1987 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Физико-химические основы надежности микроэлектронных структур
$e Межвуз. сб. науч. тр.
$f Воронеж. политехн. ин-т
$g [Редкол.: С. И. Рембеза (науч. ред.) и др.]
|
210 |
# |
# |
$a Воронеж
$c ВПИ
$d 1987
|
215 |
# |
# |
$a 91 с.
$c ил.
$d 27 см
|
300 |
# |
# |
$a Библиогр. в конце ст.
|
345 |
# |
# |
$9 200 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Микроэлектронные схемы интегральные твердотельные - Надежность - Физико-химические основы - Сборники
|
675 |
# |
# |
$a 621.315.592.019.3+621.382.049.77.012.3:541.1(082)
|
702 |
# |
1 |
$a Рембеза
$b С. И.
$g Станислав Иванович
$4 340
|
711 |
0 |
2 |
$a Воронежский политехнический ин-т
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071221
$g psbo
|