Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : В 2-х кн. / [Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и др.]. 2
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Опубликовано: | 1984 |
Физические характеристики: |
351 с. : ил.
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|