Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : В 2-х кн. / [Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и др.]. 2

Сохранено в:
Шифр документа: 25876, 5742, ##1//468745(055),
Вид документа: Книги
Опубликовано: 1984
Физические характеристики: 351 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam2a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr25735800002
005 20140422144754.0
010 # # $b В пер.  $d 3 р. 10 к. 
021 # # $a RU  $b [84-54735] 
100 # # $a 20071203d1984 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
200 0 # $a 2 
210 # # $d 1984 
215 # # $a 351 с.  $c ил. 
300 # # $a Библиогр.: с. 318-341. Предм. указ.: с. 342-346 
345 # # $9 3400 экз. 
461 # 0 $1 001BY-NLB-rr25735800000  $1 2000   $v 2 
610 0 # $a Электронная микроскопия 
610 0 # $a Рентгеноспектральный анализ 
610 0 # $a Рентгеноструктурный анализ 
675 # # $a 537.533.35+543.422.8 
701 # 1 $a Гоулдстейн  $b Д.  $g Джозеф 
702 # 1 $a Петров  $b В. И.  $4 340 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071203  $g psbo 
830 # # $a 8521;