|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr24710900000 |
005 |
20231228140717.0 |
010 |
# |
# |
$d 35 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [70-1780]
|
100 |
# |
# |
$a 20071115d1969 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a UA
|
200 |
1 |
# |
$a Повышение надежности и новые методы контроля полупроводниковых приборов
$f Гос. план. ком. Совета Министров УССР. Укр. науч.-исслед. ин-т науч.-техн. информации и техн.-экон исследований
|
210 |
# |
# |
$a Киев
$d 1969
|
215 |
# |
# |
$a 58 с.
$c черт.
$d 22 см
|
300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 56-57 (19 назв.). Перед загл. авт.: М. М. Некрасов, В. А. Гусев, В. И. Попеначенко, З. М. Фельдман
|
345 |
# |
# |
$9 1000 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Полупроводниковые приборы - Надежность
|
675 |
# |
# |
$a 621.382.019.3+[016.3]
|
701 |
# |
1 |
$3 BY-RLST-ar465953
$a Некрасов
$b М. М.
$g Михаил Макарович
$c доктор технических наук
$f 1906—1983
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071115
$g psbo
|