Моделирование на ЭВМ дефектов в кристаллах. [2: Докл. семинара]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | 1980 |
| Физические характеристики: |
177 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||