Моделирование на ЭВМ дефектов в кристаллах. [2: Докл. семинара]

Сохранено в:
Шифр документа: АУ605728, АЯ443117,
Вид документа: Книги
Опубликовано: 1980
Физические характеристики: 177 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
Загрузка