Моделирование на ЭВМ дефектов в кристаллах. [2: Докл. семинара]

Сохранено в:
Шифр документа: АУ605728, АЯ443117,
Вид документа: Книги
Опубликовано: 1980
Физические характеристики: 177 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
00000nam2a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr23318600002
005 20071112142356.0
010 # # $d 80 к. 
021 # # $a RU  $b [81-2**323] 
100 # # $a 20071112d1980 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
200 0 # $a [2  $e Докл. семинара] 
210 # # $d 1980 
215 # # $a 177 с.  $c ил. 
300 # # $a Библиогр.: с. 170-172 . Библиогр. в конце докл. 
345 # # $9 500 экз. 
461 # 0 $1 001BY-NLB-rr23318600000  $1 2000   $v [2 
610 0 # $a Кристаллы - Дефекты - Математическое моделирование - Сборники 
675 # # $a 548.4.001.573:681.3(063) 
711 0 2 $a Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе. Ленинград 
711 0 2 $a Всесоюзный постоянный семинар по моделированию радиационных и других дефектов на ЭВМ. Ленинград 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071112  $g psbo 
830 # # $a АУ605728;АЯ443117;