Моделирование на ЭВМ дефектов в кристаллах. Материалы Всесоюзного постоянного семинара по моделированию радиационных и других дефектов на ЭВМ / [Предисл. А. Н. Орлова, Ю. В. Трушина]

Сохранено в:
Шифр документа: АУ588449,
Вид документа: Книги
Опубликовано: 1979
Физические характеристики: 205 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
Загрузка