Методы исследования термоэлектрических свойств полупроводников / Под ред. д-ра физ.-мат. наук А. Р. Регеля

Сохранено в:
Шифр документа: АН618803, АР323457, АУ358496,
Вид документа: Книги
Опубликовано: М. : Атомиздат , 1969
Физические характеристики: 175 с. : черт. ; 22 см
Язык: Русский
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr23196240000
005 20071112144927.0
010 # # $d 95 к. 
021 # # $a RU  $b [69-39359] 
100 # # $a 20071112d1969 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Методы исследования термоэлектрических свойств полупроводников  $f Под ред. д-ра физ.-мат. наук А. Р. Регеля 
210 # # $a М.  $c Атомиздат  $d 1969 
215 # # $a 175 с.  $c черт.  $d 22 см 
300 # # $a Библиогр.: с. 168-174 (251 назв.). Перед загл. авт.: В. М. Глазов, А. С. Охотин, Р. П. Боровикова, А. С. Пушкарский 
345 # # $9 2100 экз. 
610 0 # $a Полупроводники - Термоэлектрические свойства 
675 # # $a 621.314.59 
701 # 1 $a Глазов  $b В. М.  $g Василий Михайлович 
702 # 1 $a Регель  $b А. Р.  $g Анатолий Робертович  $4 340 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071112  $g psbo