Методы измерения параметров полупроводниковых приборов: Пер. с англ. / Под ред. канд. физ.-мат. наук М. И. Иглицына
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | М. : Оборонгиз , 1961 |
| Физические характеристики: |
263 с. : черт. ; 23 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||