|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr23183000000 |
005 |
20150115121807.0 |
010 |
# |
# |
$d 35 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [83-93273]
|
100 |
# |
# |
$a 20071112d1982 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Методы и оборудование контроля интегральных микросхем высокой функциональной сложности
$e Сб. науч. тр.
$f Моск. ин-т электрон. техники
$g [Редкол.: Н. Д. Дубовой (отв. ред.) и др.]
|
210 |
# |
# |
$a М.
$c МИЭТ
$d 1982
|
215 |
# |
# |
$a 117 с.
$c ил.
$d 20 см
|
300 |
# |
# |
$a Библиогр. в конце ст.
|
345 |
# |
# |
$9 300 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Микроэлектронные схемы интегральные - Контроль - Сборники
|
675 |
# |
# |
$a 621.382.049.77.002:658.562
|
702 |
# |
1 |
$a Дубовой
$b Н. Д.
$4 340
|
711 |
0 |
2 |
$a Московский ин-т электронной техники
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071112
$g psbo
|