Методические рекомендации по проведению патентных исследований / М-во электротехн. пром-сти. Техн. упр.. Патентные исследования при определении уровня техники / Сост.: Э. И. Фурман, В. М. Арефьева, Н. И. Морозова и др.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Физические характеристики: |
35 с.
|
| Язык: | Русский |
Загрузка