Метод фотоэлектрической инфракрасной полярископии и дефектоскопии полупроводниковых материалов: Сборник статей / Акад. наук СССР. Ин-т кристаллографии

Сохранено в:
Шифр документа: АНД428971,
Вид документа: Книги
Опубликовано: М. , 1962
Физические характеристики: 44 с. с илл.; 8 л. илл. ; 22 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr22817490000
005 20211005111817.0
010 # # $d Б. ц. 
021 # # $a RU  $b [63-98432] 
100 # # $a 20071112d1962 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Метод фотоэлектрической инфракрасной полярископии и дефектоскопии полупроводниковых материалов  $e Сборник статей  $f Акад. наук СССР. Ин-т кристаллографии  $g Под ред. канд. физ.-мат. наук Б. Н. Гречушникова 
210 # # $a М.  $d 1962 
215 # # $a 44 с. с илл.; 8 л. илл.  $d 22 см 
345 # # $9 500 экз. 
610 0 # $a Полупроводники - Поляризационно-оптические исследования - Сборники 
610 0 # $a Полупроводники - Дефектоскопия инфракрасная - Сборники 
702 # 1 $a Гречушников  $b Б. Н.  $4 340 
711 0 2 $a Ин-т кристаллографии. Москва 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071112  $g psbo