Количественная обработка синхротронных топограмм с помощью ЭВМ / Э. С. Абовян, Г. С. Акопян, П. А. Безирганян и др.. 2 : Высокопрецизионное определение ориентации кристалла на синхротронном дифрактометре
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Физические характеристики: |
18 с. : черт.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
Загрузка