Количественная обработка синхротронных топограмм с помощью ЭВМ / Э. С. Абовян, Г. С. Акопян, П. А. Безирганян и др.. 2 : Высокопрецизионное определение ориентации кристалла на синхротронном дифрактометре

Сохранено в:
Шифр документа: 64404,
Вид документа: Книги
Физические характеристики: 18 с. : черт.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam2a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr22214200002
005 20150507153504.0
010 # # $d 15 к. 
021 # # $a RU  $b [85-18872] 
100 # # $a 20071015f19841984 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
200 1 # $a Высокопрецизионное определение ориентации кристалла на синхротронном дифрактометре 
215 # # $a 18 с.  $c черт. 
300 # # $a Библиогр.: с. 17 (6 назв.) 
345 # # $9 259 экз. 
461 # 0 $1 001BY-NLB-rr22214200000  $1 2001   $v 2 
610 0 # $a Кристаллы 
610 0 # $a Синхротронное излучение 
675 # # $a 548.0:537.531:535.3 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071015  $g psbo 
830 # # $a 64404;