Исследование сбоев в БИС ОЗУ под действием тяжелых ионов / Н. Г. Големинов, Д. В. Акиньшин, А. Ю. Дидык, В. А. Скуратов
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Дубна , 1991 |
| Физические характеристики: |
7 с.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Сообщ. объед. ин-та ядер. исслед.
Р13-91-201 |
| Предмет: |
| 00000cam0a22000001ib4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr21888260000 | ||
| 005 | 20170311133722.0 | ||
| 010 | # | # | $d 18 к. |
| 100 | # | # | $a 20071005d1991 y0rusy50 ||||ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Исследование сбоев в БИС ОЗУ под действием тяжелых ионов $f Н. Г. Големинов, Д. В. Акиньшин, А. Ю. Дидык, В. А. Скуратов |
| 210 | # | # | $a Дубна $d 1991 |
| 215 | # | # | $a 7 с. |
| 225 | 2 | # | $a Сообщ. объед. ин-та ядер. исслед. $v Р13-91-201 |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 7 (6 назв.) |
| 345 | # | # | $9 410 экз. |
| 610 | 0 | # | $a Ионы тяжелые |
| 610 | 0 | # | $a Микроэлектронные схемы, интегральные большие |
| 675 | # | # | $a 621.382.049.771.14 |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071005 $g psbo |