|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr21877960000 |
| 005 |
20180219100432.0 |
| 010 |
# |
# |
$d Б. ц.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [87-49015]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20071005d1987 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a AZ
|
| 200 |
1 |
# |
$a Исследование параметров МДП-структур методом вольтфарадных характеристик
$f Шабалов А. Л. Кулиева Л. Л., Фельдман М. С., Баширов М. З.
|
| 210 |
# |
# |
$a Баку
$d 1987
|
| 215 |
# |
# |
$a 38 с.
|
| 225 |
2 |
# |
$a Препринт
$f АН АзССР, Ин-т физики. Отд. "Микроэлектроника" СКВ "Теллур" с ОП ИФ АН АзССР
$v № 223
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 35 (19 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 100 экз.
|
| 675 |
# |
# |
$a 621.382
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071005
$g psbo
|
