Использование комбинационного рассеяния света для контроля качества приповерхностных полупроводниковых слоев / Е. В. Иванов и др.

Сохранено в:
Шифр документа: 124091,
Вид документа: Книги
Опубликовано: Л. , 1986
Физические характеристики: 44 с. : рис.
Язык: Русский
Серия: Препр. 1040
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr21836360000
005 20161205095328.0
010 # # $d Беспл. 
021 # # $a RU  $b [86-68427] 
100 # # $a 20071005d1986 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Использование комбинационного рассеяния света для контроля качества приповерхностных полупроводниковых слоев  $f Е. В. Иванов и др. 
210 # # $a Л.  $d 1986 
215 # # $a 44 с.  $c рис. 
225 2 # $a Препр.  $f АН СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе  $v 1040 
300 # # $a Библиогр.: с. 42-44 (31 назв.) 
345 # # $9 200 экз. 
675 # # $a 537.311.322:539.211 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071005  $g psbo