Емкостные методы контроля электрофизических свойств полупроводниковых структур: Учеб. пособие / [А. Г. Захаров, Д. А. Сеченов, Ю. И. Молчанов, Г. М. Набоков]

Сохранено в:
Шифр документа: М254481,
Вид документа: Книги
Опубликовано: Таганрог : ТРТИ , 1983
Физические характеристики: 72 с. : ил. ; 20 см
Язык: Русский
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr21401360000
005 20071009183554.0
010 # # $d 25 к. 
021 # # $a RU  $b [83-82222] 
100 # # $a 20071009d1983 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Емкостные методы контроля электрофизических свойств полупроводниковых структур  $e Учеб. пособие  $f [А. Г. Захаров, Д. А. Сеченов, Ю. И. Молчанов, Г. М. Набоков] 
210 # # $a Таганрог  $c ТРТИ  $d 1983 
215 # # $a 72 с.  $c ил.  $d 20 см 
300 # # $a Авт. указаны на обороте тит. л. В надзаг.: Таганрог. радиотехн. ин-т им. В. Д. Калмыкова. Библиогр.: с. 71 (11 назв.). На обл.: № 681 
345 # # $9 300 экз. 
610 0 # $a Микроэлектронные схемы интегральные - Производство - Технический контроль 
675 # # $a 621.382.049.77.002:658.562.44(075.8) 
701 # 1 $a Захаров  $b А. Г.  $g Анатолий Григорьевич 
711 0 2 $a Таганрогский радиотехнический ин-т им. В. Д. Калмыкова 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071009  $g psbo