|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr21401360000 |
005 |
20071009183554.0 |
010 |
# |
# |
$d 25 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [83-82222]
|
100 |
# |
# |
$a 20071009d1983 y0rusy50 ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Емкостные методы контроля электрофизических свойств полупроводниковых структур
$e Учеб. пособие
$f [А. Г. Захаров, Д. А. Сеченов, Ю. И. Молчанов, Г. М. Набоков]
|
210 |
# |
# |
$a Таганрог
$c ТРТИ
$d 1983
|
215 |
# |
# |
$a 72 с.
$c ил.
$d 20 см
|
300 |
# |
# |
$a Авт. указаны на обороте тит. л. В надзаг.: Таганрог. радиотехн. ин-т им. В. Д. Калмыкова. Библиогр.: с. 71 (11 назв.). На обл.: № 681
|
345 |
# |
# |
$9 300 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Микроэлектронные схемы интегральные - Производство - Технический контроль
|
675 |
# |
# |
$a 621.382.049.77.002:658.562.44(075.8)
|
701 |
# |
1 |
$a Захаров
$b А. Г.
$g Анатолий Григорьевич
|
711 |
0 |
2 |
$a Таганрогский радиотехнический ин-т им. В. Д. Калмыкова
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071009
$g psbo
|