Динамическая теория толщинной зависимости интегральной интенсивности Лауэ-дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с однородно распределенными микродефектами / Б. Ф. Журавлев, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, М. Е. Осиновский

Сохранено в:
Шифр документа: 111960,
Вид документа: Книги
Опубликовано: Киев , 1985
Физические характеристики: 30 с.
Язык: Русский
Серия: Препр. ИМФ-18.85
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr21281900000
005 20160831132951.0
010 # # $d 15 к. 
021 # # $a RU  $b [86-36471] 
100 # # $a 20071009d1985 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Динамическая теория толщинной зависимости интегральной интенсивности Лауэ-дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с однородно распределенными микродефектами  $f Б. Ф. Журавлев, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, М. Е. Осиновский 
210 # # $a Киев  $d 1985 
215 # # $a 30 с. 
225 2 # $a Препр.  $f АН УССР, Ин-т металлофизики  $v ИМФ-18.85 
300 # # $a Библиогр.: с. 19 (5 назв.) 
345 # # $9 100 экз. 
610 0 # $a Рентгеновские лучи 
610 0 # $a Кристаллы - Дефекты 
675 # # $a 548.4:537.531:535.3 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071009  $g psbo