Развитие вторично-эмиссионной масс-спектрометрии для анализа полимерных композиционных материалов: (01.04.19): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / Моск. физ.-техн. ин-т
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Яблоков, М. Ю. |
Опубликовано: | М. , 1988 |
Физические характеристики: |
21 с. : граф.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr19716390000 | ||
005 | 20070518192319.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [89-1034а] |
100 | # | # | $a 20070518d1988 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Развитие вторично-эмиссионной масс-спектрометрии для анализа полимерных композиционных материалов $e (01.04.19) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук $f Моск. физ.-техн. ин-т |
210 | # | # | $a М. $d 1988 |
215 | # | # | $a 21 с. $c граф. |
686 | # | # | $a 01.04.19 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Яблоков $b М. Ю. $g Михаил Юрьевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070518 $g psbo |