Развитие вторично-эмиссионной масс-спектрометрии для анализа полимерных композиционных материалов: (01.04.19): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / Моск. физ.-техн. ин-т

Сохранено в:
Шифр документа: 91642/88,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Яблоков, М. Ю.
Опубликовано: М. , 1988
Физические характеристики: 21 с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr19716390000
005 20070518192319.0
021 # # $a RU  $b [89-1034а] 
100 # # $a 20070518d1988 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Развитие вторично-эмиссионной масс-спектрометрии для анализа полимерных композиционных материалов  $e (01.04.19)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $f Моск. физ.-техн. ин-т 
210 # # $a М.  $d 1988 
215 # # $a 21 с.  $c граф. 
686 # # $a 01.04.19  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Яблоков  $b М. Ю.  $g Михаил Юрьевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070518  $g psbo