Послойный анализ материалов электронной техники / И. Р. Шелпакова, И. Г. Юделевич, Б. М. Аюпов

Сохранено в:
Шифр документа: 9627, 24664,
Вид документа: Книги
Автор: Шелпакова, И. Р.
Опубликовано: Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние , 1984
Физические характеристики: 181 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr18977150000
005 20140425131352.0
010 # # $d 2 р. 10 к. 
021 # # $a RU  $b [84-62751] 
100 # # $a 20070511d1984 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Послойный анализ материалов электронной техники  $f И. Р. Шелпакова, И. Г. Юделевич, Б. М. Аюпов  $g Отв. ред. Ю. А. Карпов 
210 # # $a Новосибирск  $c Наука. Сиб. отд-ние  $d 1984 
215 # # $a 181 с.  $c ил.  $d 21 см 
300 # # $a В вып. дан. 2-й авт.: Иосиф Гершевич Юделевич. В надзаг.: АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т неорган. химии. Библиогр.: с 159-179 (427 назв.) 
345 # # $9 1450 экз. 
610 0 # $a Электронные приборы - Производство - Материалы 
610 0 # $a Полупроводники - Химический анализ 
675 # # $a 621.382.002.3:543 
700 # 1 $a Шелпакова  $b И. Р.  $g Ирина Рудольфовна 
701 # 1 $a Юделевич  $b И. Г.  $g Иосиф Гершович 
701 # 1 $a Аюпов  $b Б. М.  $g Борис Менгареевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070511  $g psbo