Исследование резонансных характеристик элементов конструкций полупроводниковых приборов и интегральных микросхем: Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук: (05.12.13) / Каунас. политехн. ин-т им. А.Снечкуса
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Шамгин, Ю. В. |
| Опубликовано: | Каунас , 1976 |
| Физические характеристики: |
15 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr18725000000 | ||
| 005 | 20070507203133.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070507d1976 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a LT |
| 200 | 1 | # | $a Исследование резонансных характеристик элементов конструкций полупроводниковых приборов и интегральных микросхем $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук $e (05.12.13) $f Каунас. политехн. ин-т им. А.Снечкуса |
| 210 | # | # | $a Каунас $d 1976 |
| 215 | # | # | $a 15 с. |
| 300 | # | # | $a Список лит.: с. 14-15 (7 назв.). Для служебного пользования |
| 686 | # | # | $a 05.12.13 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Шамгин $b Ю. В. $g Юрий Васильевич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070507 $g psbo |