Фотоэлектрические методы измерения деформаций / Моск. инж.-физ. ин-т, Фак. техн. физики
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Чинарев, В. К. |
| Опубликовано: | М. , 1989 |
| Физические характеристики: |
54 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||