Вторичная ионная эмиссия и масс-спектральная микроскопия металлов и сплавов: Автореф. дис. на соискание учен. степени д-ра физ.-мат. наук: (046) / АН УкрССР. Ин-т металлофизики
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Черепин, В. Т. |
| Опубликовано: | Киев , 1972 |
| Физические характеристики: |
36 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||