Вторичная ионная эмиссия и масс-спектральная микроскопия металлов и сплавов: Автореф. дис. на соискание учен. степени д-ра физ.-мат. наук: (046) / АН УкрССР. Ин-т металлофизики
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Черепин, В. Т. |
| Опубликовано: | Киев , 1972 |
| Физические характеристики: |
36 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr18345720000 | ||
| 005 | 20070507161210.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070507d1972 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a UA |
| 200 | 1 | # | $a Вторичная ионная эмиссия и масс-спектральная микроскопия металлов и сплавов $e Автореф. дис. на соискание учен. степени д-ра физ.-мат. наук $e (046) $f АН УкрССР. Ин-т металлофизики |
| 210 | # | # | $a Киев $d 1972 |
| 215 | # | # | $a 36 с. |
| 300 | # | # | $a Список работ авт.: с. 34-36 (22 назв.) |
| 686 | # | # | $a 046 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Черепин $b В. Т. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070507 $g psbo |