Рентгенографическое исследование эпитаксиальных слоев полупроводниковых материалов: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / Тарт. ун-т

Сохранено в:
Шифр документа: 132206/90,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Хансен, К. Р.
Опубликовано: Тару , 1990
Физические характеристики: 15, [1] с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr17739030000
005 20070424181325.0
021 # # $a RU  $b [90-26902а] 
100 # # $a 20070424d1990 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Рентгенографическое исследование эпитаксиальных слоев полупроводниковых материалов  $e (01.04.07)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $f Тарт. ун-т 
210 # # $a Тару  $d 1990 
215 # # $a 15, [1] с.  $c граф. 
300 # # $a Библиогр.: с. 14-16 (11 назв.) 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Хансен  $b К. Р.  $g Калле Рихардович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070424  $g psbo