Спектрально-кинетические исследования короткоживущих дефектов в таллийсодержащих материалах оптоэлектроники: (01.04.05): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / Латв. ун-т, НИИ физики твердого тела

Сохранено в:
Шифр документа: 122414/90,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Номоев, А. В.
Опубликовано: Рига , 1990
Физические характеристики: 17 с. : граф.
Язык: Русский
00000cam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr16996290000
005 20240627132000.0
021 # # $a RU  $b [90-9045а] 
100 # # $a 20070419d1990 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a LV 
200 1 # $a Спектрально-кинетические исследования короткоживущих дефектов в таллийсодержащих материалах оптоэлектроники  $e (01.04.05)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $f Латв. ун-т, НИИ физики твердого тела 
210 # # $a Рига  $d 1990 
215 # # $a 17 с.  $c граф. 
300 # # $a Библиогр.: с. 15-17 (18 назв.) 
686 # # $a 01.04.05  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Номоев  $b А. В.  $g Андрей Валерьевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070419  $g psbo