Исследование концентраций напряжений возле отверстий в оболочках средней толщины: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.02.04) / Киев. гос. ун-т им. Т. Г. Шевченко

Сохранено в:
Шифр документа: 737/86СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Наконечный, В. В.
Опубликовано: Киев , 1985
Физические характеристики: 17 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr16505820000
005 20070412172838.0
100 # # $a 20070412d1985 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Исследование концентраций напряжений возле отверстий в оболочках средней толщины  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e (01.02.04)  $f Киев. гос. ун-т им. Т. Г. Шевченко 
210 # # $a Киев  $d 1985 
215 # # $a 17 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 14 (5 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 01.02.04  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Наконечный  $b В. В.  $g Владимир Васильевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070412  $g psbo