|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr16317260000 |
005 |
20210113094304.0 |
010 |
# |
# |
$d 20 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [90-8824]
|
100 |
# |
# |
$a 20070411d1989 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Надежность радиоэлектронных и микропроцессорных систем
$e Учебное пособие
$f Ю. Л. Муромцев, В. Н. Грошев, Т. Н. Чернышова
$g Моск. ин-т хим. машиностроения, Тамбов. ин-т хим. машиностроения
|
210 |
# |
# |
$a Москва
$c Изд. МИХМа
$d 1989
|
215 |
# |
# |
$a 104 с.
$c ил.
$d 20 см.
|
300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 98-103 (83 назв.)
|
345 |
# |
# |
$9 300 экз.
|
675 |
# |
# |
$a 621.37/.39.019.3+681.325.5-181.48-192(075.8)
|
700 |
# |
1 |
$a Муромцев
$b Ю. Л.
$g Юрий Леонидович
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070411
$g psbo
|