Анализ механизма рассеяния носителей тока в вырожденных полупроводниках и полуметаллах с помощью соотношения Видемана-Франца: (01.049): Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН СССР. Ин-т полупроводников
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Муждаба, В. М. |
| Опубликовано: | Л. , 1970 |
| Физические характеристики: |
19 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr16257800000 | ||
| 005 | 20070411131452.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [70-9249а] |
| 100 | # | # | $a 20070411d1970 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Анализ механизма рассеяния носителей тока в вырожденных полупроводниках и полуметаллах с помощью соотношения Видемана-Франца $e (01.049) $e Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук $f АН СССР. Ин-т полупроводников |
| 210 | # | # | $a Л. $d 1970 |
| 215 | # | # | $a 19 с. |
| 686 | # | # | $a 01.049 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Муждаба $b В. М. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070411 $g psbo |