|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr15753440000 |
| 005 |
20170214135747.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 1 р. 80 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [86-1409]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20070405d1985 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Структурные дефекты в эпитаксиальных слоях полупроводников
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$c Металлургия
$d 1985
|
| 215 |
# |
# |
$a 159 с.
$c ил.
$d 21 см
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 153-159 (272 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 1130 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Полупроводники - Дефекты
|
| 675 |
# |
# |
$a 537.311.322:548.4
|
| 700 |
# |
1 |
$a Мильвидский
$b М. Г.
$g Михаил Григорьевич
|
| 701 |
# |
1 |
$a Освенский
$b В. Б.
$g Владимир Борисович
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070405
$g psbo
|
