Разработка рентгенофлуоресцентного метода определения толщины одно- и двухслойных покрытий и состава многокомпонентных пленок: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. хим. наук: (02.00.02) / Горьк. гос. ун-т им. Н. И. Лобачевского

Сохранено в:
Шифр документа: 42174/87СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Машин, Н. И.
Опубликовано: Горький , 1987
Физические характеристики: 18 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr15466940000
005 20070402131802.0
100 # # $a 20070402d1987 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Разработка рентгенофлуоресцентного метода определения толщины одно- и двухслойных покрытий и состава многокомпонентных пленок  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. хим. наук  $e (02.00.02)  $f Горьк. гос. ун-т им. Н. И. Лобачевского 
210 # # $a Горький  $d 1987 
215 # # $a 18 с. 
300 # # $a Библиогр. с. 15-18 (24 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 02.00.02  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Машин  $b Н. И.  $g Николай Иванович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070402  $g psbo