Оптические и рентгеновские методы анализа материалов электроники: Учеб. пособие / Львов. гос. ун-т им. Ивана Франко

Сохранено в:
Шифр документа: 102830,
Вид документа: Книги
Автор: Матковскнй, А. О.
Опубликовано: Львов : ЛГУ , 1985
Физические характеристики: 82 с. : ил. ; 20 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr15398890000
005 20160512151054.0
010 # # $d 20 к. 
021 # # $a RU  $b [86-12886] 
100 # # $a 20070402d1985 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Оптические и рентгеновские методы анализа материалов электроники  $e Учеб. пособие  $f Львов. гос. ун-т им. Ивана Франко 
210 # # $a Львов  $c ЛГУ  $d 1985 
215 # # $a 82 с.  $c ил.  $d 20 см 
300 # # $a Библиогр.: с. 79-80 (26 назв.) 
345 # # $9 500 экз. 
610 0 # $a Электронные приборы - Материалы - Рентгенографические исследования 
610 0 # $a Электронные приборы - Материалы - Спектральный анализ 
675 # # $a 621.396.002.3:620.179.152(075.8) 
700 # 1 $a Матковскнй  $b А. О.  $g Андрей Орестович 
701 # 1 $a Ярмолюк  $b Я. П.  $g Ярослав Петрович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070402  $g psbo