Электронно-микроскопические исследования дефектов структуры в полупроводниковых материалах: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: (01.04.10) / Моск. ин-т электрон. техники
Zapisane w:
| Format: | |
|---|---|
| 1. autor: | Максимов, С. К. |
| Wydane: | М. , 1984 |
| Opis fizyczny: |
32 с.
|
| Język: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Dostępne Zamów | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||