Электронно-микроскопические исследования дефектов структуры в полупроводниковых материалах: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: (01.04.10) / Моск. ин-т электрон. техники
Enregistré dans:
| Format: | |
|---|---|
| Auteur principal: | Максимов, С. К. |
| Publié: | М. , 1984 |
| Description matérielle: |
32 с.
|
| Langue: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Disponible Réserver | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||