Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов / Отв. ред. Д. М. Хейкер

Сохранено в:
Шифр документа: 291504,
Вид документа: Книги
Автор: Лисойван, В. И.
Опубликовано: Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние , 1989
Физические характеристики: 239, [4] с. : ил. ; 22 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr14389560000
005 20200114132304.0
010 # # $a 5-02-028687-7  $b (в пер.)  $d 2 р. 60 к. 
021 # # $a RU  $b [89-16949] 
100 # # $a 20070320d1989 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов  $f Отв. ред. Д. М. Хейкер  $g АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т неорган. химии 
210 # # $a Новосибирск  $c Наука. Сиб. отд-ние  $d 1989 
215 # # $a 239, [4] с.  $c ил.  $d 22 см 
300 # # $a Библиогр.: с. 224-240 (313 назв.) 
345 # # $9 1000 экз. 
610 0 # $a Рентгенография - Точность 
675 # # $a 548.735 
700 # 1 $a Лисойван  $b В. И.  $g Владимир Иванович 
701 # 1 $a Громилов  $b С. А.  $g Сергей Александрович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070320  $g psbo