Установка для автоматического определения температурной зависимости коэффициента тэдс и электропроводности полупроводниковых материалов

Сохранено в:
Шифр документа: АНД481163СК,
Вид документа: Книги
Автор: Лискер, И. С.
Опубликовано: М. , 1965
Физические характеристики: 16 с. : черт. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Передовой науч.-техн. и производ. опыт № 18-65-1160/72
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr14381430000
005 20070320174100.0
010 # # $d 22 к. 
021 # # $a RU  $b [65-62950] 
100 # # $a 20070320d1965 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Установка для автоматического определения температурной зависимости коэффициента тэдс и электропроводности полупроводниковых материалов 
210 # # $a М.  $d 1965 
215 # # $a 16 с.  $c черт.  $d 21 см 
225 2 # $a Передовой науч.-техн. и производ. опыт  $f Гос. ком. Совета Министров РСФСР по координации науч.-исслед. работ. Гос. науч.-исслед. ин-т науч. и техн. информации  $v № 18-65-1160/72 
300 # # $a На обл. авт. не указан. Изд. подписное 
345 # # $9 1700 экз. 
610 0 # $a Контрольно-измерительные инструменты и приборы, автоматические 
610 0 # $a Полупроводники - Электрические свойства - Определение 
675 # # $a 621.315.592 
700 # 1 $a Лискер  $b И. С.  $g Иосиф Семенович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070320  $g psbo