Методы и технические средства диагностирования полупроводниковых запоминающих устройств: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05) / Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина

Сохранено в:
Шифр документа: 3826/86СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Либерг, И. Г.
Опубликовано: Харьков , 1985
Физические характеристики: 24 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr14290020000
005 20070320173336.0
100 # # $a 20070320d1985 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Методы и технические средства диагностирования полупроводниковых запоминающих устройств  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.13.05)  $f Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина 
210 # # $a Харьков  $d 1985 
215 # # $a 24 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 21-22 (14 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 05.13.05  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Либерг  $b И. Г.  $g Игорь Геннадиевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070320  $g psbo