Контактный метод измерения микрогеометрии поверхности: Основы метода и оптич. профилографы

Сохранено в:
Шифр документа: АБ33600, АН120109,
Вид документа: Книги
Автор: Левин, Б. М.
Опубликовано: Ленинград Москва : [Ленингр. отд-ние] и 1-я тип. Машгиза в Лгр. , 1950
Физические характеристики: 192 с. : илл. ; 23 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr14072990000
005 20210924134318.0
010 # # $b в пер.  $d 10 р. 30 к. 
021 # # $a RU  $b [50-33288] 
100 # # $a 20070319d1950 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Контактный метод измерения микрогеометрии поверхности  $e Основы метода и оптич. профилографы 
210 # # $a Ленинград  $a Москва  $c [Ленингр. отд-ние] и 1-я тип. Машгиза в Лгр.  $d 1950 
215 # # $a 192 с.  $c илл.  $d 23 см 
300 # # $a Перед загл. авт.: Б. М. Левин, канд. техн. наук. Библиогр.: с. 189-90 (66 назв.) 
345 # # $9 3000 экз. 
606 0 # $3 BY-NLB-ar8983  $a ДЕТАЛИ (машиностроение)  $2 DVNLB 
610 0 # $a Качество и обработка поверхности 
610 0 # $a Контроль 
610 0 # $a Профилографы 
620 # # $3 BY-NLB-ar2505811  $d Санкт-Петербург  $2 BY-auth 
700 # 1 $a Левин  $b Б. М.  $g Борис Менахемович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070319  $g psbo