Влияние возбуждения электронной подсистемы на дефектообразование в приконтактных областях полупроводников: (01.04.02): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ515428,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Левандовский, В. Г.
Опубликовано: Киев , 1985
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr14057470000
005 20070319153939.0
021 # # $a RU  $b [85-19546а] 
100 # # $a 20070319d1985 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Влияние возбуждения электронной подсистемы на дефектообразование в приконтактных областях полупроводников  $e (01.04.02)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук 
210 # # $a Киев  $d 1985 
215 # # $a 20 с. 
300 # # $a В надзаг.: Киев. гос. ун-т им. Т. Г. Шевченко. Библиогр.: с. 19-20 (10 назв.) 
686 # # $a 01.04.02  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Левандовский  $b В. Г.  $g Виталий Георгиевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070319  $g psbo