|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr13911260000 |
| 005 |
20140408132527.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 2 р. 30 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [84-37373]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20070313d1984 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Точечные дефекты в полупроводниках
$e Теория
$f Пер. с англ. Ю. М. Гальперина и др.; Под ред. В. Л. Гуревича
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$c Мир
$d 1984
|
| 215 |
# |
# |
$a 263 с.
$c ил.
$d 21 см
|
| 300 |
# |
# |
$a Перевод изд.: Point defects in semiconductors J. / By M. Lannoo, J. Bourgoin (Berlin etc., 1981). Библиогр.: с. 7 (10 назв.), 248-253. Предм. указ.: с. 254-259
|
| 345 |
# |
# |
$9 3400 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Полупроводники - Дефекты
|
| 675 |
# |
# |
$a 537.311.322:548.4
|
| 700 |
# |
1 |
$a Ланно
$b М.
$g Мишель
|
| 701 |
# |
1 |
$a Бургуэн
$b Ж.
$g Жак
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070313
$g psbo
|
