Исследование диффузии примесей с глубокими уровнями в объеме, по поверхности и структурным дефектам полупроводников: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ386016,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Куликов, Г. С.
Опубликовано: Л. , 1980
Физические характеристики: 21 с. : ил.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr13568220000
005 20070313170655.0
021 # # $a RU  $b [80-13841а] 
100 # # $a 20070313d1980 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование диффузии примесей с глубокими уровнями в объеме, по поверхности и структурным дефектам полупроводников  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук 
210 # # $a Л.  $d 1980 
215 # # $a 21 с.  $c ил. 
300 # # $a В надзаг.: АН СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе. Библиогр.: с. 20-21 (12 назв.) 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Куликов  $b Г. С.  $g Геннадий Сергеевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070313  $g psbo