Электронно-микроскопические исследования особенностей распада и агломерации точечных несовершенств в ионно-легированных слоях кремния: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.10) / Моск. ин-т электрон. техники

Сохранено в:
Шифр документа: 11996/86СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Кукин, В. Н.
Опубликовано: М. , 1986
Физические характеристики: 19 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr13510530000
005 20070303132258.0
100 # # $a 20070303d1986 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Электронно-микроскопические исследования особенностей распада и агломерации точечных несовершенств в ионно-легированных слоях кремния  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e (01.04.10)  $f Моск. ин-т электрон. техники 
210 # # $a М.  $d 1986 
215 # # $a 19 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 17-19 (14 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Кукин  $b В. Н.  $g Владимир Николаевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070303  $g psbo