Электронно-микроскопические исследования особенностей распада и агломерации точечных несовершенств в ионно-легированных слоях кремния: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.10) / Моск. ин-т электрон. техники
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Кукин, В. Н. |
Опубликовано: | М. , 1986 |
Физические характеристики: |
19 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr13510530000 | ||
005 | 20070303132258.0 | ||
100 | # | # | $a 20070303d1986 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Электронно-микроскопические исследования особенностей распада и агломерации точечных несовершенств в ионно-легированных слоях кремния $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук $e (01.04.10) $f Моск. ин-т электрон. техники |
210 | # | # | $a М. $d 1986 |
215 | # | # | $a 19 с. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 17-19 (14 назв.). Для служеб. пользования |
686 | # | # | $a 01.04.10 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Кукин $b В. Н. $g Владимир Николаевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070303 $g psbo |